❶ cpk統計分析表怎樣做
CPK不是測量出來的,而是計算出來的。
以XBAR-R控制圖為例
第一步,做研究性控制圖,定義抽樣頻次和樣本數量,測量樣本的性能,計算平均值和極差。
第二步,收集足夠125個數據之後,計算X圖和R圖控制限。
第三步,運行一段時間沒有超控制限後,使用過程中測量的數據計算CPK。
❷ 怎麼做CPK
1、收集您想要控制的特性的數據並將其輸入到Excel中,但只能以列形式。
❸ minitab怎麼做cpk
minitab做cpk的步驟為:1、統計一組數據記錄表單中,數據至少在32個以上,數據越多越能真實反映加工能力的水平。
2、打開minitab軟體。
3、將測試獲得的數據復制到minitab軟體內,數據放在同一列中。
4、點擊軟體中選擇Stat點擊QualityTools然後點擊Capabilityanalys選擇Normals選項。
5、彈出如下對話框,在裡面依次輸入以下參數,點擊OK確認,即可生成本文開頭的CPK計算值,可以看出本組數據cpk為0.9,需要改善。
❹ CPK的計算方法,舉例說明!
CPK:
Complex
Process
Capability
index
是現代企業用於表示製成能力的指標。
CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))
Cpk——過程能力指數
CPK=
Min[
(USL-
Mu)/3s,
(Mu
-
LSL)/3s]
Cpk應用講議
1.
Cpk的中文定義為:製程能力指數,是某個工程或製程水準的量化反應,也是工程評估的一類指標。
2.
同Cpk息息相關的兩個參數:Ca
,
Cp.
Ca:
製程准確度。
Cp:
製程精密度。
3.
Cpk,
Ca,
Cp三者的關系:
Cpk
=
Cp
*
(
1
-
|Ca|),Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應,Ca反應的是位置關系(集中趨勢),Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
4.
當選擇製程站別Cpk來作管控時,應以成本做考量的首要因素,還有是其品質特性對後製程的影響度。
5.
計算取樣數據至少應有20~25組數據,方具有一定代表性。
6.
計算Cpk除收集取樣數據外,還應知曉該品質特性的規格上下限(USL,LSL),才可順利計算其值。
7.
首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ),再計算出規格公差(T),及規格中心值(u).
規格公差=規格上限-規格下限;規格中心值=(規格上限+規格下限)/2;
8.
依據公式:Ca=(X-U)/(T/2)
,
計算出製程准確度:Ca值
9.
依據公式:Cp
=T/6σ
,
計算出製程精密度:Cp值
10.
依據公式:Cpk=Cp(1-|Ca|)
,
計算出製程能力指數:Cpk值
11.
Cpk的評級標准:(可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策)
A++級
Cpk≥2.0
特優
可考慮成本的降低
A+
級
2.0
>
Cpk
≥
1.67
優
應當保持之
A
級
1.67
>
Cpk
≥
1.33
良
能力良好,狀態穩定,但應盡力提升為A+級
B
級
1.33
>
Cpk
≥
1.0
一般
狀態一般,製程因素稍有變異即有產生不良的危險,應利用各種資源及方法將其提升為
A級
C
級
1.0
>
Cpk
≥
0.67
差
製程不良較多,必須提升其能力
D
級
0.67
>
Cpk
不可接受
其能力太差,應考慮重新整改設計製程。
PPK:
Pp(Performance
Indies
of
Process):過程性能指數,定義為不考慮過程有無偏移時,容差范圍除以過程性能。
(該指數僅用來與Cp及Cpk對比,或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序)
CPU:穩定過程的上限能力指數,定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限:
CPL:穩定過程的下限能力指數,定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限。
公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度,μ與M的偏離為ε=|
M-μ|
關於Cpk與Ppk的關系,這里引用QS9000中PPAP手冊中的一句話:「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時(至少100個個體樣本),可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程,應該使用Ppk。」
所謂PPK,是進入大批量生產前,對小批生產的能力評價,一般要求≥1.67;而CPK,是進入大批量生產後,為保證批量生產下的產品的品質狀況不至於下降,且為保證與小批生產具有同樣的控制能力,所進行的生產能力的評價,一般要求≥1.33;一般來說,CPK需要藉助PPK的控制界限來作控制。